更新時間:2024-01-21
hick 8000x射線光譜分析儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計的一款新型鍍層光譜分析儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
Thick 8000x射線光譜分析儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計的一款新型鍍層光譜分析儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
儀器配置
1 硬件:主機壹臺,含下列主要部件:
(1) X光管 (2) 半導(dǎo)體探測器
(3) 放大電路 (4) 高精度樣品移動平臺
(5) 高清晰攝像頭 (6) 高壓系統(tǒng)
(7) 上照、開放式樣品腔 (8)雙激光定位
(9) 玻璃屏蔽罩
2 軟件:天瑞X射線熒光光譜儀FpThick分析軟件V1.0
參數(shù)規(guī)格
1.分析元素范圍:硫(S)~鈾(U);
2.同時檢測元素:zui多24個元素,多達5層鍍層;
3.分析含量:一般為2ppm到99.9%;
4.鍍層厚度:一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同);
5.SDD探測器:分辨率低至135eV;
6.良好的微孔準直技術(shù):zui小孔徑達0.1mm,zui小光斑達0.1mm;
7.樣品觀察:配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭;
8.準直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準直器組合;
9.儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm;
10.樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm;
11.樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm;
12.X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s;
13.X/Y/Z平臺重復(fù)定位精度:小于0.1um;
x射線光譜分析儀性能特點
1.精密的三維移動平臺;
2.的樣品觀測系統(tǒng);
3.良好的圖像識別;
4.輕松實現(xiàn)深槽樣品的檢測;
5.四種微孔聚焦準直器,自動切換;
6.雙重保護措施,實現(xiàn)無縫防撞;
7.采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度。
x射線光譜分析儀安裝要求:
1 環(huán)境溫度要求:15℃-30℃
2 環(huán)境相對濕度:<70%
3 工作電源:交流220±5V
4 周圍不能有強電磁干擾。
廠家介紹
江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業(yè)生產(chǎn)ROHS測試儀,液相色譜質(zhì)譜儀(LCMS),原子熒光光譜儀,x射線測厚儀,ROHS檢測設(shè)備,X射線鍍層測厚儀,氣相色譜儀,ROHS檢測儀,液相色譜儀,手持式礦石分析儀,原子吸收光譜儀,X射線熒光光譜儀,汽油中硅含量檢測儀,氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀(GCMS), ROHS儀器,手持式合金分析儀等分析儀器,涉及的儀器設(shè)備主要有Thick 8000、Thick800A、EDX600、AAS 9000、AAS 8000等。
天瑞儀器成立于1992 年,以研究、生產(chǎn)、銷售X 熒光光譜分析儀起步,目前從事以光譜儀、色譜儀、質(zhì)譜儀為主的分析儀器及應(yīng)用軟件的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和相關(guān)技術(shù)服務(wù),是國內(nèi)在創(chuàng)業(yè)板上市的分析儀器企業(yè)。公司產(chǎn)品主要應(yīng)用于環(huán)境保護與安全(空氣、土壤、水質(zhì)污染檢測等)、礦產(chǎn)與資源(地質(zhì)、采礦)、商品檢驗甚至人體微量元素的檢驗等眾多領(lǐng)域。
深圳市天瑞儀器有限公司
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主營產(chǎn)品:天瑞ROHS檢測儀,ROHS2.0分析儀,XRF檢測設(shè)備,領(lǐng)苯檢測儀,ROHS10項檢測儀
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