復(fù)合鍍層的制備是在鍍液中加入一種或數(shù)種不溶性固體顆粒,使固體顆粒與金屬離子共沉積的過程,它實(shí)際上是一種金屬基復(fù)合材料。復(fù)合鍍層的研究已有20多年的歷史,在強(qiáng)化材料表面等方面具有顯著的效果。但由于其加入的固體顆粒多為微米級(jí),其性能不能滿足科技飛速發(fā)展的要求,應(yīng)用范圍受到了一定的限制。

自納米材料誕生以來,已制備出包括金屬、非金屬、有機(jī)、無機(jī)和生物等各種納米材料,成為科技發(fā)展前沿挑戰(zhàn)性的研究熱點(diǎn)。納米材料的表面效應(yīng)、小尺寸效應(yīng)等使納米材料具有比普通材料高得多的強(qiáng)度與硬度。

納米復(fù)合鍍層就是在鍍液中加入納米固體顆粒,通過與金屬共沉積獲得鍍層。把納米顆粒應(yīng)用在電鍍、化學(xué)鍍及電刷鍍中來獲得比普通復(fù)合鍍層高的硬度、耐磨性、減摩性等已獲得較大進(jìn)展。納米材料在力、電、聲、光、熱、磁等方面的許多特性,對(duì)獲得具有特殊表面功能的復(fù)合鍍層提供了*的機(jī)遇,將使復(fù)合鍍層的功能特性得到大幅度提升。具有優(yōu)異特性的納米顆粒材料在復(fù)合鍍層中的應(yīng)用有力地促進(jìn)著復(fù)合鍍層的發(fā)展

表面Thick800a金屬鍍層XRF測(cè)厚儀性能特點(diǎn)

采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度

定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊

鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)

高分辨率探頭使分析結(jié)果更加準(zhǔn)確

良好的射線屏蔽作用

測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求

φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求

高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm

表面Thick800a金屬鍍層XRF測(cè)厚儀產(chǎn)品介紹

名稱及型號(hào)：金屬鍍層XRF測(cè)厚儀

鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）

任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。

相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。

多變量非線性回收程序

溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。

元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。

同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。

分析含量一般為ppm到99.9% 。

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。

外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：90kg

廠家介紹

江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業(yè)生產(chǎn)ROHS測(cè)試儀，液相色譜質(zhì)譜儀（LCMS）,原子熒光光譜儀，x射線測(cè)厚儀，ROHS檢測(cè)設(shè)備，X射線鍍層測(cè)厚儀，氣相色譜儀，ROHS檢測(cè)儀，液相色譜儀，手持式礦石分析儀，金屬鍍層XRF測(cè)厚儀， X射線熒光光譜儀，汽油中硅含量檢測(cè)儀，氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀（GCMS）, ROHS儀器，手持式合金分析儀等分析儀器，涉及的儀器設(shè)備主要有Thick 8000、Thick800A、EDX600、AAS 9000、AAS 8000等。